LEAP Si
Yarıiletken, Elektron Aparatlar ve Nanomanyetikler için Yüksek Performanslı 3D Atom Probu
LEAP 4000X SiTM yüksek performanslı atom prop mikroskobu olup basit ve kompleks yapıların nano-skala yüzey, bulk ve interfasiyel malzeme analizini atomdan atoma tanımlama ve hassas spatiyel pozisyonlama ile gerçekleştirir.
Son Güncelleme (Pazartesi, 11 Nisan 2011 15:24)






















Uygur Bilgisayar Ltd.