Yarıiletken, Elektron Aparatlar ve Nanomanyetikler için Yüksek Performanslı 3D Atom Probu

LEAP 4000X Si^TM yüksek performanslı atom prop mikroskobu olup basit ve kompleks yapıların nano-skala yüzey, bulk ve interfasiyel malzeme analizini atomdan atoma tanımlama ve hassas spatiyel pozisyonlama ile gerçekleştirir.   

Kilit Özelliği:

• En hızlı veri toplama hızı
• Yerel elektrod ve mikrotip uyumluluğu
• Değişebilir uçuş yolu