Esnek ince film ölçme enstrümanı.

nkd-8000 en ileri tasarım olup gelişmiş fonksiyonluk ve esneklik sağlar  – araştırmadan üretim ve kalite kontrolal.
Tahribatsız olarak tek ve çok-tabakalı ince film ve substratların refraktif endeksi (n),  enstiksiyon katsayısı (k) ve film inceliği ölçümü Transmitans ve Reflektans ile birlikte elde edilir.

Cihaz tipleri: - standart: 350 – 1000 nm
                        v modeli: 280 – 1000 nm
                          r modeli: 800 – 1700 nm
                        w modeli: 350 – 1700 nm
                         e modeli: 350 – 2300 nm

* Kalite kontrol  
* Proses izleme  
* Film karakterizasyonu  
* Kalınlık ölçümü  
* Numune karakterizasyonu

* Ful T ve R spektrası kaplanmamış numunelerin analiz edilmesini ve filmleri analiz ederken   iyileştirilmiş hassasiyetle analizini sağlar.
* Veri toplama ve analizi dakika mertebesindedir.
* Robust, güvenilir ve yüksek stabilite
* Filmler transparan malzeme dahil herhangi numune üzerinde analiz edilir, arka yüzey   yansımaları için herhangi özel hazırlığa gerek göstermez.
* Geniş bir malzeme yelpazesi hassas olarak modellenir ve analiz edilir.
* Tek katman analiz edildikten sonra benzer filmlerin ilerde analizi için
  veritabanına eklenebilmesi hızlı ve basittir.
* Gelişmiş analiz modu ile tamamen bilinmeyen malzemeler analiz edilebilir.
* Entegre ince-film tasarımı ve analizi: ölçülen veri tasarım işlemine geri
  aktarılarak performans iyileştirmesi sağlanır.