Yüksek Spatiyel Resolüsyonlu İzotopik ve Eser element Analzinde SIMS Mikroprobu

CAMECA NanoSIMS 50 yüksek lateral resolüsyonlu SIMS analiz performansını optimize eden ünik iyon mikroprobu.İyon tabancası ve İkincil iyon eksraksiyonunda koaksiyel optik tasarıma ve çoklu koleksiyonlu orijinal manyetik sektör kütle analizörüne dayalıdır.

- Jeoloji

SiC polykristalde Si ve C izotop oranı
Sülfit örneklerinde küçük alanların kükürt izotopik ölçümleri
Altın cevherinde Piritten altın görüntüleme

- Yıldızlararası Toz PArtikül analizi testi için sub-mikron Al2O3
danelerinde oksijen izotopik oranı

- Kosmokimya; Murchison (CM2) yoğunluğu ayrı KE3'den presolar
grafit sferül
Yıldızlararası Toz Partikülleri(IDP) kümelerinde bol yıldızlararası
silikatlar
Murchison ve Indarch meteoritlerinden küçük presolar SiC daneleri
izotopik analizi

- Malzeme bilimi: Silikon nitrat Si3N4 (1 mm kalın) karanlık noktalar
YAG dane cidarlarında dopan segregasyonu

- Metalurji: Alüminyum alaşımlarında elementsel görüntüleme
Alstroly malzemesinde yorulgan çatlak propagasyonu

- Kompozit Malzeme: TA6V matriksinde (%90 Ti, %6 Al, %4 V) gömülü
SiC elyafı

- 3D difüzyon incelemesi: Camda SnO2 tabakası

- Derinlik profillemesi ve/veya kesit görüntülemesi

- Yarı-iletkenler: İmplant silikonda Arsenik dopan görüntüleme
Aparatlarda dopan görüntüleme: P ve B

Yarıiletken görüntüleme: Görme alanı: 15x15 um. Elde etme süresi: 12 dk. 256x256 piksel. Cs+/16keV/0.15 um/15 pA. Lineer ve logaritmik As renk skalası

Jeoloji: Altın cevherinden pyrit danelerinde altın görüntüleme